Elif Betül Akın

Türk Patent ve Marka Kurumu Yeniden İnceleme ve Değerlendirme Dairesi Başkanı

Elif Betül Akın, Türk Patent ve Marka Kurumu (TÜRKPATENT) Yeniden İnceleme ve Değerlendirme Dairesi (YİDD) Başkanıdır. Kariyerine TÜRKPATENT’te Sınai Mülkiyet Uzmanı olarak başlayan Akın, 2011 yılından itibaren Kurum bünyesinde Uluslararası İlişkiler Dairesi Başkanı ve Markalar Dairesi Başkanı gibi çeşitli yöneticilik pozisyonlarında görev almıştır. Ocak 2017'de, yeni Sınai Mülkiyet Kanunu'nun yürürlüğe girmesi ve YİDD’nin ayrı bir idari birim olarak oluşturulmasıyla birlikte, patent, tasarım, marka ve coğrafi işaretlere yönelik itiraz ve temyiz süreçlerini yürütmekle sorumlu olduğu mevcut görevine atanmıştır.

Kariyeri boyunca, AB tarafından finanse edilen Eşleştirme Projesi'nin eş koordinasyonu, Madrid Protokolü’nün Kurum bünyesinde uygulanmasına yönelik idari kapasitenin oluşturulması, iş akışlarının modernizasyonu ve dijitalleştirilmesi, kılavuzların ve inceleme rehberlerinin hazırlanması, yeni Sınai Mülkiyet Kanunu'nun hazırlanması ve son olarak patentlerde tescil sonrası itiraz prosedürlerinin oluşturulması gibi önemli proje ve çalışmalarda yer almıştır.

2017 yılından bu yana, WIPO Akademisi, TÜRKPATENT ve Ankara Üniversitesi iş birliğiyle sunulan Fikri Mülkiyet Hukuku Yüksek Lisans (LL.M) Programı'nda ders vermektedir.

Elif Betül Akın, lisansüstü eğitimini Hacettepe Üniversitesi Gıda Mühendisliği alanında tamamlamış olup, aynı üniversiteden yüksek lisans (M.Sc.) ve doktora (Ph.D.) derecelerini almıştır. Ayrıca, Münih Fikri Mülkiyet Hukuku Merkezi – Max Planck Enstitüsü’nden Fikri Mülkiyet ve Rekabet Hukuku alanında LL.M derecesine sahiptir.